FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем. Это универсальный прибор для широкого круга задач. Предназначен для автоматизированных измерений очень тонких покрытий, малых концентраций элементов, микроэлементов, сплавов, электролитов.
Описание
Прибор FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD оснащен кремниевым дрейфовым детектором с большой площадью чувствительной области и хорошим разрешением по энергии. В сочетании с диафрагмами большого размера это позволяет регистрировать очень высокие значения скорости счета, что обуславливает великолепную сходимость результатов измерений и очень низкий порог чувствительности. Модель XDV-SDD особенно хорошо подходит для измерения толщины самых тонких покрытий и определения следовых количеств веществ. За счет повышенной чувствительности детектора к низкоэнергетическому рентгеновскому излучению расширяется в область низких атомных чисел диапазон определяемых прибором элементов, что позволяет, например, надежно измерять содержание фосфора или алюминия в воздухе.
Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь этот прибор подходит для измерений на плоских объектах и крупных образцах сложной формы. Чтобы можно было создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, прибор XDV-SDD оснащен сменными диафрагмами и первичными фильтрами. Быстродействующая программируемая XY-платформа позволяет легко выполнять последовательные измерения толщины покрытия и распределения элементов в составе. Дружественный к пользователю интерфейс, широко открывающаяся крышка и органы управления на передней панели облегчают повседневную эксплуатацию прибора.
Видеокамера высокого разрешения с большим коэффициентом увеличения, обеспечивающая визуальный контроль в процессе работы, упрощает точное определение места измерения. Дополнительным подспорьем служит лазерный указатель, помогающий быстрее придать образцу нужное положение. Благодаря своим широким возможностям и универсальной конструкции прибор XDV-SDD идеально подходит для НИОКР, аттестации технологических процессов и лабораторного применения, а надежность и удобство пользования делают его ценным инструментом обеспечения качества и контроля производственных процессов.
Особенности
- измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов;
- программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.
Дополнительные принадлежности
- WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
- ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).
Диапазон рабочих температур, °С
|
10 °C – 40 °C |
Электропитание
|
от сети 220 В |
Диапазон температуры хранения, °C
|
0 °C – 50 °C |
Размеры, мм
|
измер.камера 580 x 560 x 145 мм |
Масса, кг
|
155 |
Источник рентгеновского излучения
|
вольфрамовая трубка |
Коллиматор, мм
|
0,1 мм; 0,3 мм; 0,6 мм; 0,5x0,15 мм. |
Чтобы приобрести товар, необходимо выбрать товар и нажать кнопку «Подать заявку». При оформлении заказа заполнить форму. Вписать информацию в поля: ФИО, телефон и e-mail. Затем вам перезвонит менеджер, чтобы подтвердить ваше согласие на совершение покупки.
Также вы можете позвонить нам, и сделать заказ по телефону.
Ваш заказ можем доставить собственными ресурсами, при условии вашего нахождения в городе Омск. Либо через три варианта доставки:
- Курьерская доставка. Курьерская доставка работает с 9:00 до 19:00. Когда товар поступит на склад, курьерская служба свяжется для уточнения деталей. Специалист предложит выбрать удобное время доставки и уточнит адрес.
- Самовывоз со склада. Адрес ближайшего к вам склада уточняйте у нашего менеджера.
- Предоставляем доставку транспортными компаниями: КИТ, Деловые линии, СДЭК, CAR-GO и другие.