FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237

Описание

Конструктивно измерительная система FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 аналогична XDLM. Разница заключается в типе детектора. В приборе XDAL 237 используется детектор на кремниевом PIN-диоде с охлаждением на элементе Пельтье, имеющий существенно более высокое разрешение по энергии, чем у пропорциональной счетной трубки, которой оснащен прибор XDLM. Поэтому эта модель подходит для общего анализа материалов, определения следовых количеств веществ и измерения толщины тонких покрытий.

В качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, обеспечивающая разрешение мелких участков мишени. Однако ввиду относительно малой площади активной области детектора (по сравнению с пропорциональной счетной трубкой) модель XDAL 237 лишь ограниченно пригодна для анализа очень мелких структур или применений с очень малым размером зоны измерения, поскольку регистрирует только малые значения интенсивности. Как и в XDLM, диафрагмы и фильтры можно сменять автоматически для создания оптимальных условий возбуждения при решении различных измерительных задач.

Модель FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 оборудована большой измерительной камерой, позволяющей исследовать образцы сложной формы. Благодаря регулируемой оси Z с автоматическим приводом возможна работа с образцами высотой до 140 мм. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Измерительная система оснащена быстродействующей программируемой XY-платформой, с помощью которой можно легко исследовать поверхности образца в режиме картографирования.

Кроме того, предусмотрена возможность программирования и автоматического выполнения последовательных измерений на компонентах (например, выводных рамках), а также на множестве компонентов, в т. ч. разнотипных.

Отличительные особенности

• Измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов.
• Программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.

Дополнительные принадлежности

• WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
• ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).

ХАРАКТЕРИСТИКИ

• Одновременный анализ до 24 элементов и 24 слоев.
• Кремниевый PIN (полупроводниковый) детектор с охлаждающим элементом Пельтье (не нуждается в охлаждении жидким азотом).
• Измерительная платформа (оси XY): быстро перемещаемая, с электромотором, можно программировать перемещение.
• Вертикальный детектор (ось Z): перемещаемый.
• Крышка измерительной камеры: открывающаяся вверх, с прозрачной передней панелью.
• Увеличенная камера c щелевым отверстием для измерения работы с плоскими образцами.
• Микрофокусная трубка.
• Цветной видеомикроскоп и лазерный указатель для ориентации образца и наблюдения за местом измерения.
• Точная настройка может производиться вручную или с помощью джойстика, или с ПК при помощи мыши и клавиатуры.
• Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
• Измерения проводятся сверху вниз.
• Максимальный вес измеряемого образца: до 5 кг; до 20 кг - с уменьшением точности перемещения.
• Максимальная высота образца: до 140 мм.

Примеры применения

• Измерение толщины покрытий, анализ материалов и сплавов (в т. ч. тонких покрытий, сплавов с низкой концентрацией элементов) .
• Входной контроль, контроль производственных процессов.
• НИОКР.
• Электронная промышленность.
• Соединители и контакты.
• Ювелирная и часовая промышленность.
• Измерение толщины тонких золотых и палладиевых покрытий при производстве печатных плат.
• Определение следовых количеств веществ.
• Анализ покрытий из твердых материалов.